Tag Archives: SEM

Karakterisasi CuO Menggunakan SEM, EDS, XRD, dan FTIR

KARAKTERISASI CuO MENGGUNAKAN SEM, EDS, XRD DAN FTIR

M. M. R. Jahuddin, E. A. Ratnasari, A. Y. Rabbani, N. R. Khazai, K. D. Jatmoko, F. A. Permatsari, S. R. Aprilia

10211094, 10211025, 10211033, 10211067, 10211087, 10211090

Program Studi Fisika, Institut Teknologi Bandung, Indonesia

E-mail: muhammad.maruf@students.itb.ac.id

Abstrak

CuO atau tembaga oksida merupakan salah satu senyawa tembaga sederhana. CuO memiliki beberapa kelebihan yaitu memiliki temperatur superkonduktivitas yang tinggi, efek korelasi elektron, dan dinamika spin. CuO juga diaplikasikan di berbagai bidang antara lain sebagai katalis, baterai, sensor gas, penghantar panas, dan untuk energi surya. Struktur kristal CuO memiliki band gap yang kecil sehingga sifat fotokatalisis dan fotovoltaik sangat berguna. Dari sifat CuO tersebut, kita akan mengkarakterisasi senyawa tersebut melalui berbagai metode. Ada empat metode yang digunakan pada karakterisasi CuO ini, yaitu SEM (Scanning Electron Microscopy), EDS (Energy Dispersive Spectroscopy), XDR (X-ray Diffraction) dan FTIR (Fourier Transform Infrared Spectroscopy). Kesimpulan yang diperoleh dari percobaan ini antar lain pada sampel terdapat bahan pengotor sehingga pada pengujian terdeteksi unsur lain, sampel yang digunakan terlalu sedikit dan masih terdapat sisa sampel percobaan sebelumnya pada alat sehingga pada pengujian XRD senyawa mayoritas bukanlah senyawa dari sampel yang diuji, senyawa yang dimonan pada sampel yang kita uji memiliki rumus I3 Nb10 Se40, dan fluktuasi grafik menggambarkan ikatan-ikatan apa saja yang terkandung pada sampel yang kita uji pada analisis FTIR.

Laporan Karakterisasi CuO Menggunakan SEM, EDS, XRD, dan FTIR

Advertisements

Scanning Electron Microscope (SEM)

Scanning electron microscope (SEM) menggunakan tembakan elektron berenergi tinggi untuk menciptakan beragam sinyal pada permukaan spesimen padat. Sinyal yang diperoleh dari interaksi antara elektron dengan sampel memberikan informasi tentang tekstur (morfologi), komposisi unsur, dan struktur kristal material.

Elektron yang diakselerasi pada SEM membawa sejumlah energi kinetik, dan energi ini terdisipasi ke berbagai sinyal yang dihasilkan oleh interaksi elektron dengan sampel ketika tabrakan elektron mengalami deakselerasi pada sampel padat. Sinyal ini terdiri atas elektron sekunder (yang menghasilkan citra SEM), backscattered electron, backscattered electron yang terdifraksi (digunakan untuk menentukan struktur kristal dan orientasi material), foton, cahaya tampak, dan panas.

Elektron sekunder dan backscattered electron secara umum digunakan untuk pencitraan sampel; elektron sekunder sangat baik untuk mencitrakan morfologi dan topografi pada sampel sedangkan backscattered electron sangat baik untuk mengilustrasikan kontras pada komposisi sampel yang beragam. Continue reading →